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AnaPico的APPH系列相位噪聲分析儀還為用戶提供了一種用于VCO綜合參數(shù)的創(chuàng)新測量方案,該方案可以測量VCO的參數(shù)、相位噪聲水平并測量相位噪聲對控制電壓的依賴性。
上一個:應(yīng)對高速芯片從相位噪聲到時間抖動的挑戰(zhàn)
下一個:信號相干與量子比特(Qubit )的控制
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